Lekka płyta dynamiczna HMP LFG 4 generacji to wprowadzony w 2013 roku na rynek najnowszy model produkowanego od 25 lat urządzenia do badania dynamicznego modułu odkształcenia, który wykorzystuje się do oceny nośności oraz pośrednio - do kontroli jakości zagęszczenia podłoża gruntowego, dróg gruntowych oraz warstw gruntów mineralnych, gruntów ulepszonych wapnem lub materiałów odpadowych, wbudowywanych w różnego rodzaju nasypy lub zasypki. Badania lekką płytą dynamiczną można wykonywać: - w zakresie pomiarowym 15 < Evd < 120 MN/m2, - gdy wbudowywane są warstwy mineralne gruntów gruboziarnistych z zawartością (do 15%) ziaren o maksymalnej średnicy d > 63 mm (a także grunty z dodatkiem (do 30%) kruszyw łamanych) oraz grunty drobnoziarniste niespoiste, -gdy grubość badanej jednorodnej warstwy gruntu wynosi pomiędzy 0,3 a 0,6 m.
Najważniejsze korzyści w porównaniu z płytą do badań statycznych (czyli tzw. VSS-em): - błyskawiczny pomiar (maksymalnie 2 minuty na jeden punkt pomiarowy) - wygodna i prosta obsługa oraz natychmiastowy odczyt wyników każdego pojedynczego pomiaru in-situ - kontrola zagęszczenia w trudno dostępnych miejscach (np. wykopy, rowy melioracyjne) - mały ciężar własny i niewielkie elementy składowe (łatwa do użytkowania i transportu) - nie jest konieczne stosowanie przeciwwagi co zawsze komplikuje i wydłuża badanie
Lekka płyta dynamiczna znalazła szerokie zastosowanie w budownictwie ziemnym, fundamentowym oraz drogowym na całym świecie. Charakteryzuje się wyjątkowo niskimi kosztami wykonania pomiaru oraz możliwością ich przeprowadzenie w trudno dostępnych miejscach. Urządzenie jest zgodne z niemieckimi przepisami kontroli technicznej dla gruntów i skał TP BF-StB część B 8.3 / 2003 jak również z dodatkowymi technicznymi warunkami oraz wytycznymi dla robót ziemnych w budownictwie drogowym (ZTVE-StB 2009). Jest ono stosowane powszechnie na całym świecie.
Urządzenie dostarczane jest wraz z protokołem kalibracji, świadectwem zgodności oraz certyfikatem jakości ISO 9001:2008, co potwierdza jakość wykonania jak i precyzję przyszłych pomiarów.
Be the first to comment