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BREVE 01 : Observer la tranche d'un circuit intégré

il y a 4 ans61 views

Le sujet de cette toute première Brève de Deus Ex Silicium porte sur l'observation de la tranche d'une puce de silicium afin de voir dans quelle mesure il est possible de distinguer les différentes couches metalliques qui forment les circuits et relient les composants entre eux, avec à la clé, des images prises par un puissant microscope optique ainsi qu'un microscope à balayage électronique.

- Deus Ex Silicium -
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